Microscope à force atomique

Naio-afm

Microscope à force atomique tout-en-un pour petits échantillons et nanoéducation

  • Un produit AFM robuste et de haute qualité
  • Aucune installation requise: branchez et c'est parti!
  • Découvrez les didacticiels vidéo NaioAFM (voir ici lien :
  • Options et accessoires disponibles
  • Prix très compétitif !

Le NaioAFM est le microscope à force atomique idéal pour la nanoéducation et la mesure de petits échantillons. Plus que le successeur du célèbre AFM Easyscan 2, ce système AFM tout-en-un offre des performances solides et une manipulation simple, avec une étiquette de prix et une empreinte qui conviennent à tout le monde.

Un produit AFM robuste et de haute qualité

Le NaioAFM est une tête de balayage AFM, un contrôleur, un étage d'échantillonnage, une table de positionnement micrométrique, une solution anti-vibration et une enceinte acoustique de mesure, tout en un! De ce fait, aucune pièce mal fixée ne peut être perdue ou mal assemblée. Ceci est crucial dans les environnements avec des utilisateurs AFM nouveaux et inexpérimentés.

Lorsque le compartiment de numérisation est ouvert, par exemple pour changer l'échantillon AFM ou le cantilever, le scanner est automatiquement rétracté pour éviter que le cantilever ne s'écrase sur l'échantillon lorsque le compartiment est ensuite refermé. Lors de la fermeture, un mécanisme intelligent applique de manière stable la tête de numérisation AFM sur un système de montage à 3 points et ferme l'isolement acoustique autour de l'échantillon et de la tête de numérisation AFM. De cette manière, le compartiment du scanner est efficacement isolé du bruit et des courants d’air, et l’échantillon et la tête de balayage sont connectés via la boucle mécanique la plus petite possible, ce qui permet d’améliorer la stabilité et la qualité des mesures.

Le NaioAFM dispose également d’un étage d’échantillonnage AFM avec des positionneurs d’échantillons intégrés. Ces positionneurs peuvent facilement être découplés de l’étage d’échantillonnage après le réglage de la position. L’échantillon AFM ne repose que sur une plate-forme de montage directement fixée à la table en granit à la base du système. Cette lourde table en pierre et les pieds supplémentaires anti-vibrations passifs du NaioAFM protègent davantage la mesure contre les perturbations dues aux vibrations, ce qui rend le système très robuste pendant les mesures.

Aucune configuration réelle nécessaire

Pour utiliser le NaioAFM, il suffit de brancher les câbles d’alimentation et USB, de lancer le logiciel convivial et vous êtes prêt à partir en quelques minutes! Aucune configuration réelle n'est requise. Regardez notre vidéo de présentation pour voir à quel point c'est facile. Parce que le NaioAFM est livré avec une puce d’alignement en cantilever, l’échange en cantilever est également très facile et l’alignement au laser fait désormais partie du passé. Regardez la vidéo sur l'échange en cantilever pour voir comment cela se passe.

 

Un autre avantage de la conception compacte et tout-en-un du NaioAFM est sa portabilité: le système est livré avec une mallette de transport qui permet de transporter l'instrument dans une autre pièce, institut ou même dans un train ou un avion. Il sera opérationnel sur le nouvel emplacement en un rien de temps. Quel autre instrument AFM vous donne cette flexibilité?

 

Options et accessoires

Bien que le NaioAFM soit une solution AFM complète en soi, les options et accessoires suivants peuvent compléter ou étendre ses fonctionnalités:

 

  • AFM cantilevers
  • Kit d'échantillonnage étendu AFM
  • Modes de mesure dynamiques
  • Modes de mesure avancés
  • Spectroscopie et option d'étalonnage
  • Caméra latérale NaioAFM
  • Table d'isolation vibratoire active

 

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